面向高速光通信的光电频率响应综合分析仪

简介

作为高速光通信核心器件，相干光芯片研制生产迫切需要满足双通道测量需求的仪表。团队基于微波光子学方法，提出宽带变频的光电频率响应测量方法、相推高精度时延差测量方法及光电测量系统误差校准方法，研制出同时具备单通道、双通道测量能力的光电频率响应综合分析仪，测量带宽达110GHz，时延准确度较现有仪表提升80倍，打破国外技术封锁。申请发明专利3项、软著1项，被华为、国家信息光电子创新中心、海信等公司应用。