纳微慧眸——视觉大模型驱动的微纳米级电子陶瓷缺陷智能检测系统

简介

本项目致力于解决高端电子陶瓷元件微纳米级缺陷检测技术瓶颈，创新融合微纳米级DIC微分干涉与镜红外表面穿透技术，开发图像生成差异性算法与LUT增强技术，构建基于VIT的工业专用AI大模型，结合多CUDA核并行加速架构。系统在实际应用中展现出卓越性能。该项目填补了国内高端电子陶瓷元件微纳米级缺陷检测设备的技术空白，为我国半导体产业链实现自主可控提供了关键支撑，具有重大战略价值和广阔的市场前景。