芯眼·AI缺陷溯源工程

简介

“芯眼・AI缺陷溯源工程”属人工智能+应用赛项目，响应国家科技强国与人工智能发展政策，聚焦芯片检测痛点。针对市场设备精度低、速度不稳、检测种类局限等问题，创新采用NAM-PS预处理方案、融合FFDG-Cascade的YOLO算法及新型样本生成方法，提升检测精准率与速度，拓展检测种类至23类。已与企业合作落地，成效显著，获多项专利，带动就业，助力产业智能化。